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摘要:
用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,条纹图解析为测量点的位移量和变形量,进而得到其离面位移,在优化算法的时候采用π位相技术获取另一个π相移的变形条纹图像,将面内位移与离面位移分离,为了消除零级分量,让投影光栅移动1/2个周期.通过Matlab和四步位相算法给出了三维空间模型,得出变形后物体的离面位移数据.实验仿真数据表明其能够稳定地测量物体变形场三维分量,误差较低.
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文献信息
篇名 基于优化电子散斑光谱的三维物体测量研究
来源期刊 应用光学 学科 工学
关键词 电子散斑 三维 相移 测量
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目 光学计量与测试
研究方向 页码范围 263-266
页数 4页 分类号 TN206|TB853.22
字数 3065字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-2082.2010.02.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王洪有 9 27 2.0 5.0
2 司新生 6 10 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子散斑
三维
相移
测量
研究起点
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
应用光学
双月刊
1002-2082
61-1171/O4
大16开
西安市电子城电子三路西段9号(西安123信箱)
1980
chi
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