LTCC微带传输线损耗特性研究

• 作者: 唐伟 杨邦朝 龙博
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: LTCC 微带传输线 导体损耗 介质损耗 辐射损耗
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TN713
• 字数: 2416字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2010.03.010

摘要

为了减小LTCC微带传输线损耗,提升电路传输性能,设计了一个LTCC 50 Ω标准匹配微带线实验.利用矢量网络分析仪测量了微带线损耗,并依据电子显微镜对电路的检测结果分析了损耗产生的原因.结果显示,在10 GHz频率下,微带线损耗约为0.6 dB.提出了减小微带线高频损耗的有效方法,如提高光绘膜精度和丝网精度等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨邦朝	电子科技大学电子科学技术研究院研发制造部	253	3422	31.0	49.0
2	唐伟	电子科技大学电子科学技术研究院研发制造部	24	171	8.0	12.0
3	龙博	电子科技大学电子科学技术研究院研发制造部	2	10	1.0	2.0