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摘要:
6H-SiC晶体生长过程中单晶锭边缘形成的多晶环影响单晶体的品质.本研究制定了以改进坩埚系统结构为主、调整线圈与坩埚相对位置为辅的多晶环厚度控制方案,利用自制设备进行了6H-SiC晶体生长验证实验,实验结果显示所生长6H-SiC单晶体不但周边和表面光滑,未有多晶出现,还实现了显著的扩径生长.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 6H-SiC单晶锭边缘的多晶环控制
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 6H-SiC 多晶SiC 坩埚系统
年,卷(期) 2010,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1124-1129,1140
页数 分类号 O782.7
字数 3596字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈治明 西安理工大学电子工程系 83 498 11.0 18.0
2 蒲红斌 西安理工大学电子工程系 33 119 7.0 9.0
3 封先锋 西安理工大学电子工程系 22 106 7.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
6H-SiC
多晶SiC
坩埚系统
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
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16
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38029
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