校准件端口尺寸测量方法及不确定度分析

• 作者: 刘宏
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 测量不确定度 分析 端口尺寸
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 实验室特写
• 页码范围: 51,53
• 页数: 2页
• 分类号: TB92
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.02.020

摘要

文章简单介绍校准件端口尺寸的测量方法,主要分析了影响其测量不确定度的各个因素,并对引入的测量不确定度的各分量进行评定,给出完整的端口尺寸的测量结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏		58	385	9.0	18.0