高速高精度DAC关键性能测试方法研究

• 作者: 俞慧月 刘芸 易伟 邵博闻
• 来源期刊: 集成电路应用
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 所属期刊栏目: 设计诀窍
• 页码范围: 42-44,46
• 字数: 1311字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2010.07.014

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞慧月		9	17	2.0	3.0
2	邵博闻		2	3	1.0	1.0
3	刘芸		2	3	1.0	1.0
4	易伟		2	3	1.0	1.0