基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统

• 作者: 冯正和 叶苍竹 姚元 官守军 曹祥鑫 殷璐
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: GPIB技术 光插回损耗 自动测试系统 数据库
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 1-3
• 分类号: TN929.11
• 字数: 2645字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5561.2010.11.001

摘要

针对传统光纤元件插回损耗测试方法效率低、易出错的缺点,基于GPIB技术开发了一种新型的光插回损耗自动测试系统.该系统通过GPIB总线实现计算机与多台测试仪器相互通信,利用VB编写测控软件实现光插回损耗的自动测试.所采集数据利用Access数据库统一管理.应用结果表明,该系统运行稳定,操作简便,具有一定的实用性和推广价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯正和	清华大学电子工程系	60	278	9.0	13.0
2	姚元	清华大学电子工程系	2	2	1.0	1.0
3	叶苍竹		1	2	1.0	1.0
4	曹祥鑫		1	2	1.0	1.0
5	官守军		1	2	1.0	1.0
6	殷璐		1	2	1.0	1.0