用于产品安全加速范围的可靠性强化试验技术

• 作者: 姜同敏 罗敏
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 航空 航天系统工程 微波电子产品 加速试验 可靠性强化试验 性能指标
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 79-83
• 页数: 5页
• 分类号: TP114.3
• 字数: 3862字
• 语种: 中文

摘要

为了在有限的经费和试验周期内,考核某长寿命、高可靠性微波电子产品长期贮存寿命与可靠性,利用可靠性分析手段,确定产品的薄弱环节和敏感应力.通过可靠性强化试验(RET)寻找产品的应力极限并分析产品性能指标的变化.试验结果表明,RET不仅可用于确定加速寿命试验(ALT)(退化)试验的安全加速范围,还可为加速退化试验(ADT)选择关键性能指标,从而提供了一种具有安全加速范围的加速试验方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜同敏	北京航空航天大学工程系统工程系	75	866	16.0	26.0
2	罗敏	同济大学铁道与城市轨道交通研究院	11	58	3.0	7.0