混合BIST对象建模及结构分析

• 作者: 孙永建 雷加
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: BIST Volterra级数 功率谱 混合信号
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 21-23
• 分类号: TP206+.3
• 字数: 2019字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8978.2010.05.004

摘要

介绍一种基于谱分析的混合信号BIST分析方法,包括被测电路模型建立,即利用Volterra级数来描述,阐述这种BIST测试方案.以硬件开销较小的伪随机信号作为输入激励,通过谱估计方差较小的Welch算法进行谱分析,计算出Volterra频域核来进行故障诊断,可使测量过程高效、准确.最后利用MATLAB仿真分析验证了方案的可行性,使测试方案具有较好的实用性和通用性.