国内首届智能三表IC创新研讨会即将在宁波举办

• 作者: 张文灵
• 来源期刊: 磁性元件与电源
• 学科: 工学
• 关键词: 创新技术 智能 宁波 IC 国内 器件应用 抄表方式 半导体
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 65-65
• 页数: 1页
• 分类号: TN402

摘要

由大比特资讯机构主办、半导体器件应用网承办的“2011年智能三表IC创新技术与设计研讨会”将于2011年05月25日在浙江宁波盛大开幕。会议将以智能三表创新技术为主导，围绕智能实现、三表集抄、抄表方式、三表合一、主站开发、电表新规范等技术解决方案和元器件新技术应用等热点话题进行技术探讨和交流。