基于单片机控制的Buck电路在熔断器温升试验中的应用

• 作者: 邹建强 陈思明
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 Buck电路 熔断器 温升试验
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 所属期刊栏目: 应用与测试
• 页码范围: 56-58,61
• 分类号: TM563
• 字数: 1731字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2010.09.016

摘要

介绍了一种Buck电路在小型熔断器温升试验中的应用.以单片机控制的Buck电路为核心,改进了传统的检测装置,对Buck电路进行了仿真,给出了单片机控制策略.此项应用可提高工作效率和检测精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈思明		2	1	1.0	1.0
2	邹建强		4	1	1.0	1.0