高压脉冲电容器贮存寿命虚拟样本回归预测法

• 作者: 冯静
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高压脉冲电容器 贮存寿命预测 等概率区间虚拟样本 性能退化建模 自助方法 回归分析
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 2542-2547
• 分类号: TP114
• 字数: 4312字
• 语种: 中文

摘要

为了提高高压脉冲电容器贮存寿命的预测精度,根据其电容量随贮存时间延长而增大并最终导致电容器失效的规律,提出了基于自助方法和回归分析原理的等概率区间虚拟样本回归预测法.对某型400 nF复合介质电容器10个产品8个月的测量数据进行分析,得到其贮存寿命服从正态分布,贮存可靠度要求为0.8时,有效贮存寿命为85个月.10个原始样本回归得到的贮存寿命置信区间宽度为27.192,而采用虚拟样本方法(样本数N=100)得到的可靠贮存寿命置信区间宽度为4.444.等概率区间虚拟样本回归方法,可以大大提高贮存寿命的预测精度,并且当虚拟样本数量增至>1500时,贮存寿命的预测精度基本保持不变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯静	国防科技大学信息系统与管理学院	56	506	13.0	19.0