基于NI Multisim 10与LabVIEW的单结晶体管伏安特性测试

• 作者: 宗爱芹
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 单结晶体管 伏安特性 Multisim 10 虚拟仪器 LabVIEW
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 所属期刊栏目: 新型元器件
• 页码范围: 149-151
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.10.048

摘要

在传统的单结晶体管伏安特性测试实验中,通常需要直流电源与晶体管图示仪配合使用.晶体管图示仪没有相应的器件插孔,测试很不方便.另外,因晶体管图示仪的频率特性低,无法显示单结晶体管伏安特性的负阻区,给理解其特性曲线带来了困难.为了降低实验成本,简化实验操作过程,采用虚拟仪器技术设计单结晶体管伏安特性测试仪,可以完整地显示其特性曲线,且方便于读取峰点与谷点的电压与电流值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宗爱芹	上海海事大学高等技术学院	3	5	1.0	2.0