高气压微波氢等离子体发射光谱诊断

• 作者: 吴利峰 湛玉龙 翁国锋 马志斌
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 发射光谱 Stark展宽 高气压放电 氢等离子体 电场强度
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 2027-2031
• 分类号: TL65
• 字数: 3644字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20102209.2027

摘要

在2.45 GHz,800 W级的高气压微波等离子体放电系统中,通过测量不同微波功率和放电气压下氢等离子体的Balmer线系的发射光谱,从测量的谱线总展宽中卷积去掉具有高斯线形的Doppler展宽和仪器展宽得到谱线的Stark展宽,并通过Stark展宽测量氢等离子体的电子数密度和电场强度.结果表明:等离子体的电子数密度和电场强度随着放电气压的升高都是先增大后减小,随着微波功率的增加呈现逐渐增大的趋势.微波功率为800 W时,气压在25 kPa时电子数密度和电场强度都达到最大值,等离子体的电子数密度和内部的电场强度分别为3.55×1012 cm-3及4.01 kV/cm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴利峰		1	11	1.0	1.0
2	马志斌		2	12	1.0	2.0
3	翁国锋		1	11	1.0	1.0
4	湛玉龙		1	11	1.0	1.0