频综测试仪(FSTI)设计与实现

• 作者: 吴立丰
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 频综 控制方式 数字信号处理器 现场可编程门阵列 模块化
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 654-657
• 分类号: TM933
• 字数: 1832字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.07.010

摘要

频综是微波系统的主要信号发生器,跳频电台、雷达等无线通讯系统都需要频综.随着频综需求量和复杂度的增加,设计高效的测试频综的设备是十分必要的.介绍一种将先进的计算机软硬件技术和仪器自动测量技术相结合来设计和实现微波频综测试仪(FSTI)的方法.测试仪以DSP和FPGA为核心搭建多接口可重用高速数据处理平台,软件采用模块化设计,C语言实现.结果表明,使用该测试仪器可使频综的测试效率提高30%,极大地减轻了测试人员的工作量,具有很强的工程应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴立丰	中国电子科技集团公司第十三研究所	6	1	1.0	1.0