CdZnTe晶体光致发光谱"负热淬灭"现象研究

• 作者: 介万奇 俞鹏飞 傅莉 徐亚东 查钢强 王涛
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 工学
• 关键词: CdZnTe PL谱 负热淬灭
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 106-109
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.2+5
• 字数: 2195字
• 语种: 中文

摘要

采用改进的垂直布里奇曼法生长了直径为60 mm的CdZnTe晶体,测试了其在10 K～150 K范围的PL谱.对760 nm和825 nm处的峰积分强度随温度变化关系进行研究发现,在30～50 K范围内,PL谱峰的强度呈现反常温度依赖现象,即随着温度的升高而减小,也就是所谓的"负热淬灭"现象,这在CdZnTe晶体中属首次观察到.进一步分析表明,随着温度的增加,其PL谱强度变化的过程包含了三个无辐射过程和一个负热淬灭过程.与没有发生"负热淬灭"现象的CdZnTe晶体对比,两者XRD图谱呈现明显差异.讨论了发生负热淬灭现象的原因以及可能路径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	介万奇	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	272	1636	19.0	27.0
2	王涛	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	100	658	13.0	21.0
3	徐亚东	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	23	70	5.0	7.0
4	傅莉	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	75	535	14.0	20.0
5	查钢强	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	38	93	5.0	7.0
6	俞鹏飞	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	3	5	2.0	2.0