一种测量高强度直流X光机辐射能谱的方法

• 作者: 周海生 王奎禄 罗剑辉 黑东炜
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: X光机 散射法 能谱测量
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 676-679
• 分类号: TL99
• 字数: 1835字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.05.023

摘要

介绍了一种康普顿散射法测量高强度直流X射线能谱的方法,分析了X光机辐射谱与散射谱强度的关系表达式.在测量系统中使用能量分辨能力较好的高纯锗探测器,通过测量X光机照射低原子序数材料的散射能谱,再根据不同能量X射线在该散射立体角上的散射截面回推,从而获得X光机的辐射能谱.最后,给出了X光机的工作电压分别为15、80和100 kV时,散射法测量得到的钨靶X射线辐射谱.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗剑辉		16	56	4.0	6.0
2	王奎禄		30	104	6.0	8.0
3	黑东炜		26	90	6.0	7.0
4	周海生		11	27	3.0	4.0