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摘要:
带隙基准源是LDO中的重要模块,其性能的好坏直接影响到LDO整个系统的性能,为此本文针对以上问题进行相关研究,设计一种具有较高的PSRR和较低的稳定输出电压的带隙基准电压源.文中结合工程实际的要求设计了一款具有高的电源抑制比(PSRR)、低的输出基准电压的带隙基准电压源.本设计采用SMIC公司的0.18μm工艺进行仿真,Hspice的仿真结果表明该基准源在电源抑制比(PSRR)、温度特性等方面有良好的性能.
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文献信息
篇名 一种高电源抑制比带隙基准源的设计
来源期刊 电子测试 学科 工学
关键词 CMOS 带隙基准 PSRR
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 77-80
页数 分类号 TP391
字数 1610字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8519.2010.09.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚美霞 12 14 2.0 3.0
2 丁宁 12 33 3.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
CMOS
带隙基准
PSRR
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
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