高海拔下双串并联瓷绝缘子串的直流污闪特性

• 作者: 关志成 彭功茂 李健 梅红伟 王黎明 赵锋
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 直流 高海拔 双串并联 电弧发展 污闪特性 串间距
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 2613-2620
• 分类号: TM216.4
• 字数: 3127字
• 语种: 中文

摘要

为研究高海拔直流条件下大吨位瓷绝缘子串的双串并联污闪特性,在高海拔条件下,对XZP1-300直流瓷绝缘子在不同污秽条件及不同串间间距下进行了单串及双申并联人工污秽试验.并通过高速摄影仪拍摄的电弧发展过程的录像,揭示了高海拔条件下盐密和串间距等因素对大吨位瓷绝缘子直流污闪过程的影响.试验发现,高海拔条件下直流污闪存在较严重的片间桥络和飘弧现象,双串并联时电弧发展的独立性及飘弧的程度呈现出一定的规律性,在串间距一定的条件下电弧仅沿一串发展,双串并联并不会造成闪络电压的明显降低,研究结果可为实际工程外绝缘设计提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王黎明	清华大学深圳研究生院	268	4672	36.0	52.0
2	关志成	清华大学深圳研究生院	227	4753	35.0	53.0
3	李健	清华大学深圳研究生院	57	928	16.0	29.0
7	彭功茂	清华大学深圳研究生院	9	332	8.0	9.0
11	梅红伟	清华大学深圳研究生院	66	692	17.0	23.0
15	赵锋		1	8	1.0	1.0