基于VXI总线通用型集成运放测试系统设计

• 作者: 梁光发 殷贤华
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 虚拟仪器 VXI测试系统 运放参数
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 2735-2737,2760
• 分类号: TP391.7
• 语种: 中文

摘要

根据集成运算放大器参数自动测试的需要,在深入研究集成运放测试电路和虚拟仪器技术、VXI总线自动测试系统的基础上,设计了VXI总线集成运放测试系统;应用加锁和解锁技术,使局域网终端能够共享测试系统,应用IVI仪器驱动器技术,使测试系统具有可互换性;实验证明,测试系统能够对通用型单运放、双运放和四运放集成电路开环差模电压放大倍数、最大输出电压和频率特性等参数进行自动测试,并自动生成测试报告;结果正确,精度高,速度快,便于共享和维护,有效提高了集成运放的测试效率和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷贤华	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	27	98	6.0	9.0
2	梁光发	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	3	19	2.0	3.0