基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计

• 作者: 卜小帷 詹惠琴
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 半导体分立元件测试 半导体分立元件分选机 现场可编程逻辑阵列 Verilog硬件描述语言
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 18-20
• 分类号: TP39
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.08.007

摘要

介绍了批量生产流程中半导体分立元件测试系统的结构组成,以及半导体分立元件分选机的基本工作方式,在此基础之上研究并设计了接口信号可随意设定的分选机控制系统.该系统具有较强的适用性,可以应用于各种不同种类的半导体分立元件分选机;同时该系统还具有一定的功能扩展性.实验表明该分选机控制系统可以适用于不同类型分选机,通信质量有效可靠,达到预期设计目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	詹惠琴	电子科技大学自动化学院	45	219	8.0	12.0
2	卜小帷	电子科技大学自动化学院	1	3	1.0	1.0