单片机传输系统EMP损伤效应研究

• 作者: 吴宏志 孙蓓云 崔志同 翟爱斌 聂鑫 陈向跃
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 电流注入 单片机系统 EMP 损伤效应
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 1201-1206
• 分类号: O441.5
• 字数: 2050字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.09.015

摘要

搭建了一套小型单片机数据传输系统,研究了电流注入环境下系统的电磁脉冲(EMP)敏感单元、损伤阈值,结合具体的电路结构,对系统失效原因进行了分析.实验结果表明,MAX232芯片是系统的EMP敏感单元,不同批次的器件其EMP损伤阈值不同.研究结果可为系统级EMP损伤效应研究提供实验方法及数据参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈向跃		20	118	7.0	9.0
2	孙蓓云		36	408	10.0	19.0
3	聂鑫		23	142	7.0	11.0
4	翟爱斌		6	31	3.0	5.0
5	崔志同		9	18	2.0	4.0
6	吴宏志	中国工程物理研究院应用电子学研究所	1	5	1.0	1.0