影像测量系统的精密校正方法研究及其应用

• 作者: 祝良荣 邹华东 陶文勇
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 精密校正 线性校正 非线性校正 校正系数 特征点对 影像测量
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 2057-2059
• 分类号: TP311
• 语种: 中文

摘要

介绍了两种应用于影像测量系统的精密图像校正及其实现方法;不同的系统校正方法不同时所需要特征点的不同,需要设计并制作精密的标靶件作为比对参照对象,根据系统需求研发设计了两种精密校正样板,并介绍其使用方法;在此基础上,介绍了两种校正方法的基本校正原理及其算法.触摸式投影仪中,采用单筒显微镜头,其成像畸变较小,采用非线性的精密校正方法校正后,其重复测量精度为2μm.大视场影像测量仪中,采用线性校正方法,仪器重复测量精度为10μm,采用非线性校正的方法补偿了镜头的成像畸变后,重复测量精度为2 m以上;以上实验表明,两种精密校正方法的应用提高了仪器的检测精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祝良荣		28	71	5.0	7.0
2	邹华东		7	19	3.0	4.0
3	陶文勇		16	20	3.0	4.0