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摘要:
说明了半导体产品稳定性和可靠性的重要性,它是生产和应用中关注的技术指标.即便是同类型产品,因结构设计不同,执行的标准及考核手段也不完全一样.分析了传声器管失效的原因,大多是因其PN结特性交坏或PN结受损造成.指出了对传声器管进行静电放电试验会对PN结构成一定的损伤.
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文献信息
篇名 传声器管可靠性分析
来源期刊 电声技术 学科 工学
关键词 静电放电 驻极体 箝位
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目 扬声器与传声器
研究方向 页码范围 25-27
页数 3页 分类号 TN643
字数 2444字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8684.2010.02.005
五维指标
作者信息
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研究主题发展历程
节点文献
静电放电
驻极体
箝位
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电声技术
月刊
1002-8684
11-2122/TN
大16开
北京市朝阳区酒仙桥北路乙7号
2-355
1977
chi
出版文献量(篇)
6327
总下载数(次)
24
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