一种智能型熔断器寿命试验与评估系统

• 作者: 周喜 姚建林 姜高 施海宁 石颉
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 管状熔断器 寿命试验 金属电迁移 寿命预测模型 寿命评估系统
• 年，卷（期）: 2010,（20）
• 页码范围: 52-57
• 分类号: TM563|TM506
• 字数: 3489字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2010.20.013

摘要

根据老化机理建立的基于金属电迁移理论的熔断器寿命预测模型,开发了一套熔断器寿命评估系统.该系统能够采集精确的、全面的寿命试验数据,经过数据分析与处理,能得到组熔断器的预测寿命.最后,以TDP44-1A型熔断器为例,对所述寿命评估方法进行了验证,说明了方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施海宁		18	69	4.0	7.0
2	石颉		23	66	5.0	7.0
3	姚建林		16	53	4.0	6.0
4	周喜		2	3	1.0	1.0