一种新的电路故障自主仿真系统的研究与开发

• 作者: 李树平
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 故障注入 单粒子翻转事件 可编程逻辑器件 重配置
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 2016-2018
• 分类号: V443
• 语种: 中文

摘要

在航空航天等面临恶劣外部辐射环境的应用中,要特别考虑由空间辐射引发的单粒子翻转事件(Single-Eyent Upset)对数字电子系统带来的影响,必须对电子系统进行抗SEU性能的评估,以保证系统的可靠性;提出了一种新的SEU故障注入仿真平台;不同于传统的软件故障仿真方法,该平台基于FPGA来进行故障注入仿真,具有成本低、自主工作及测试快速的特点;实验显示单个SEU故障注人仅耗时46μs.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李树平	牡丹江师范学院计算机科学与技术系	47	84	4.0	7.0