高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究

• 作者: 庄泽南 张晓清 潘清 王霄军
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性测试 平均无数据丢失时间(MTTDL) 磁盘读出错率
• 年，卷（期）: 2010,（36）
• 页码范围: 82-84,132
• 分类号: TP302
• 字数: 4291字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2010.36.022

摘要

阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘清	装备指挥技术学院信息装备系	34	182	8.0	11.0
2	张晓清	装备指挥技术学院信息装备系	10	74	6.0	8.0