两种系统级单粒子效应容错方法性能仿真分析

• 作者: 卢焕章 张开锋 张路 肖山竹 贺兴华
• 来源期刊: 信号处理
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子翻转效应 容错 失效率 仿真分析
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 应用
• 页码范围: 267-271
• 页数: 5页
• 分类号: TN432
• 字数: 3296字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0530.2010.02.020

摘要

基于VLSI的信息处理系统空间应用时容易遭受单粒子翻转效应(SEU:Single Event Upset)的影响.基于结构冗余的三模冗余(TMR:Three Module Redundancy)和基于信息冗余的错误检纠错(EDAC:Error Detection and Correction)是两种常见的系统级抗单粒子翻转的容错方法,被广泛应用于空间信息处理系统中.从可靠性改进、存储资源占用、硬件实现代价以及实现延时等四个方面,对两种方法进行了性能分析和仿真实验.性能分析和仿真实验结果表明,EDAC方法适合应用于基本数据宽度较大、存储资源受限、实时性要求不高的应用中,结构TMR方法适合应用于基本数据宽度较小、存储资源充足、实时性要求较高的应用中.