高精度ADC有效精度的测试方法

• 作者: 杨海钢 郝志刚
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: ADC测试方法 高精度 噪声
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 269-271,276
• 页数: 4页
• 分类号: TN431.2
• 字数: 1888字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.03.018

摘要

采用IEEE标准提供的方法对ADC测试,要求信号源的精度比被测ADC的精度高.对于高精度ADC,需要更高精度的信号源.如果没有这种更高精度的信号源,就不能准确测出ADC的精度.给出了一种不需要信号源、只利用电路本身的热噪声作为被测ADC的输入信号,对ADC的输出进行FFT分析,求出噪声,求出有效精度的方法.这种测试方法速度快且准确,而且不需要高精度信号源.另外,通过一个实例对这种测试方法进行了验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝志刚	中国科学院电子学研究所	4	64	4.0	4.0
5	杨海钢	中国科学院电子学研究所	134	485	10.0	15.0