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摘要:
介绍了一种基于AT89S52单片机所构成的大容量存储测试系统的设计.该测试系统采用CH375芯片作为USB主控芯片,使用普通U盘为存储设备用以存储MTX传感器采集到的大量多参数数据,配备相应的软件实现数据的再现,方便与计算机的数据交换,并给出了相应硬件电路以及软件的设计.最后,给出了设计调试结果,证明系统设计方案的可行性.
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文献信息
篇名 大容量存储测试系统设计与实现
来源期刊 测控技术 学科 工学
关键词 大容量 CH375 U盘 存储测试技术
年,卷(期) 2010,(4) 所属期刊栏目 数据采集与处理
研究方向 页码范围 12-14
页数 分类号 TP274
字数 1132字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8829.2010.04.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 侯和平 西安理工大学印刷包装工程学院 34 128 7.0 9.0
2 赵庆海 西安理工大学印刷包装工程学院 44 287 10.0 14.0
3 刘源 西安理工大学印刷包装工程学院 4 18 3.0 4.0
4 栾玉敏 西安理工大学印刷包装工程学院 2 13 2.0 2.0
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2020(1)
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研究主题发展历程
节点文献
大容量
CH375
U盘
存储测试技术
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测控技术
月刊
1000-8829
11-1764/TB
大16开
北京2351信箱《测控技术》杂志社
82-533
1980
chi
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