共沉淀分离-氢化物发生-原子荧光光谱法测定高纯偏钨酸铵中痕量铋

• 作者: 张殿凯 童坚 臧慕文 郑永章
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: 共沉淀 氢化物发生 原子荧光光谱法 偏钨酸铵 铋
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 70-72
• 分类号: O657.32
• 字数: 2236字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0720.2010.12.019

摘要

提出了以氢氧化镧为共沉淀荆,对高纯偏钨酸铵中痕量杂质元素铋进行共沉淀分离富集后以HG-AFS进行测定的方法.在强碱性环境中进行两次共沉淀,能使铋元素定量分离回收,偏钨酸铵残留量降至很低水平.选择了适宜的反应条件以及仪器的最佳工作条件,考察了钨基体对被测元素的干扰.铋的检出限0.020 ng/mL,测定下限0.012 μg/g,相对标准偏差4.6%,回收率在92.8%～108.4%之间,方法适用于高纯偏钨酸铵中痕量铋的测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	童坚		31	180	8.0	10.0
2	郑永章		20	192	8.0	12.0
3	臧慕文		33	259	8.0	15.0
4	张殿凯		7	26	4.0	5.0