一种改进的扫描电路测试压缩方法

• 作者: 刘煜坤 张旭 张旭辉 张礼勇
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 测试时间 有限扫描 测试压缩 启发式方法
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 71-75
• 分类号: TP302
• 字数: 3149字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2010.11.016

摘要

提出了一种改进扫描电路测试压缩方法.首先,通过基于向量删除的测试压缩去除测试序列中的冗余向量;其次,用消耗时钟较少的有限扫描操作代替全扫描操作,合并测试序列内部测试向量,减少测试时间;最后,采用启发式方法限制候选测试对数量,降低计算复杂度,加速测试压缩过程.基准电路实验结果表明,相同故障覆盖率下,该方法降低测试时间效果十分显著.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张礼勇	哈尔滨理工大学测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室	108	1033	18.0	26.0
2	张旭辉	哈尔滨理工大学测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室	18	148	6.0	12.0
3	张旭	哈尔滨理工大学电工电子教学与实训中心	21	81	4.0	8.0
4	刘煜坤	哈尔滨理工大学测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室	10	40	4.0	6.0