原文服务方: 计算机测量与控制       
摘要:
针对测试硬件种类增多导致的测试路径连接复杂、人工配置困难的问题,提出了一种在建立测试系统数据模型的基础上实现的测试路径自动选择算法;该算法将测试设备及被测元件的通道信息纳入到测试系统数据模型中,根据硬件设备信号通道的具体条件为依据,以通过测试路径后测试信号的衰减值最小为最优路径的判别条件,通过测试系统软硬件的交互,实现了测试路径的最优配置;该算法提高了测试路径配置的效率,同时提高了测试程序集的可移植性.
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文献信息
篇名 基于测试系统模型的测试路径选择算法研究
来源期刊 计算机测量与控制 学科
关键词 自动测试系统 测试路径 测试资源模型
年,卷(期) 2010,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1733-1735
页数 分类号 TP301.6
字数 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周绍磊 114 930 16.0 26.0
2 徐俊彦 2 7 1.0 2.0
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节点文献
自动测试系统
测试路径
测试资源模型
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期刊影响力
计算机测量与控制
月刊
1671-4598
11-4762/TP
大16开
北京市海淀区阜成路甲8号
1993-01-01
出版文献量(篇)
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