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摘要:
为了改善星载存储器的抗SEU性能,增加星载存储器在空间使用的灵活性,文中基于ACTEL公司的ProAsic系列A3P400FPGA并采用扩展汉明码和TMR两种检错纠错方法相结合的方式,同时使用可变内存配置方案,设计了一种新型的抗SEU存储器电路。与传统的EDAC芯片相比,本设计不仅可以对出错数据进行修正而且还可以实时的进行回写。
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文献信息
篇名 一种抗SEU存储器电路的FPGA设计
来源期刊 电子元器件应用 学科 工学
关键词 SEU 扩展汉明码 TMR ACTEL RAM
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 24-28
页数 5页 分类号 TN402
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 兰家隆 电子科技大学电子工程学院 18 75 5.0 7.0
2 卜雷雷 电子科技大学电子工程学院 2 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
SEU
扩展汉明码
TMR
ACTEL
RAM
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
月刊
1563-4795
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座240
1999
chi
出版文献量(篇)
5842
总下载数(次)
7
总被引数(次)
11366
论文1v1指导