基于广义AO~*算法的测试序列问题研究

• 作者: 叶晓慧 王红霞 田树新
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 人工智能 广义AND/OR图 广义AO~*算法 测试序列问题
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 204-208
• 页数: 5页
• 分类号: TP306
• 字数: 4417字
• 语种: 中文

摘要

测试序列问题的目标是用最小的期望测试费用找到最佳测试序列.提出了一种广义AO~*算法解决了电子设备的测试序列问题.对传统的AND/OR图进行扩展得到一种广义的AND/OR图,它不仅能够提高AND/OR图的表达能力而且能够实现推理操作符与问题之间的多对多关系;描述了广义AO~*算法的步骤并且分析了该算法的计算复杂度.通过实例说明广义AO~*算法不仅可有效减少计算复杂度和平均测试代价,而且生成的故障诊断策略能快速、有效的指导维修人员定位故障以减少维修代价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王红霞	海军工程大学电子工程学院	92	354	12.0	15.0
2	叶晓慧	海军工程大学电子工程学院	70	448	12.0	16.0
3	田树新	海军工程大学电子工程学院	10	85	5.0	9.0