DS18B20的实用技术及冗余校验

• 作者: 韩成浩
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 单总线技术 冗余校验 单片机 DS18B20
• 年，卷（期）: 2010,（13）
• 页码范围: 124-125,112
• 分类号: TP313
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.13.052

摘要

本文论述了DS18B20的单点测温方法和多点测温方法,重点阐述了DS18B20的CRC冗余校验计算方法及具体软件编程.现场试验证明,采用CRC冗余校验,可提高温度的测量精度和测量效果,具有较强的在线检测功能,适用于测量精度要求高的场合,有非常广泛的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩成浩		87	449	8.0	19.0