精密检测及质量控制系统的设计与分析

• 作者: 王若平 赖利国
• 来源期刊: 新技术新工艺
• 学科: 工学
• 关键词: 过程质量控制 数据采集 数据分析
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 兵器工业技术交流
• 页码范围: 101-102
• 分类号: TP274
• 字数: 1471字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5311.2010.06.032

摘要

从满足制造业过程中对质量控制的需求出发,通过使用电子数显卡尺测量数据,计算质量控制图的控制参数,从而做出受控对象的过程控制图,对测量数据进行跟踪、传送与管理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖利国		10	29	3.0	5.0
2	王若平		16	12	2.0	3.0