天线反射对混波室场均匀性校准的影响

• 作者: 何鹏 周香 蒋全兴
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 天线反射 混波室 场均匀性 最低使用频率
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 100-102
• 页数: 3页
• 分类号: TB973
• 字数: 2209字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2010.01.029

摘要

场均匀性是混波室的重要指标,但其在校准中会受天线反射的影响.首先计算分析了混波室经验最低使用频率与体积的关系,通过增加体积降低最低使用频率会增加成本;然后介绍了混波室场均匀性校准程序,最后通过实验分析得出,混波室搅拌器搅动会影响发射天线驻波比,由此导致归一化因子不同混波室场强归一化标准偏差不同,甚至会影响混波室最低使用频率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋全兴	东南大学电磁兼容实验室	92	702	14.0	21.0
2	何鹏	东南大学电磁兼容实验室	11	52	4.0	6.0
3	周香	东南大学电磁兼容实验室	26	189	7.0	13.0