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摘要:
We present the investigation on LaF_3/porous silicon(PS) system that has properties of both the materials to be applied in photonics.Epilayers of LaF_3 are grown on PS under different anodization conditions using electron-beam evaporation(EBE).The characteristics of the LaF_3/PS system are analyzed by X-ray diffraction(XRD),scanning electron microscope(SEM),energy dispersive X-ray spectroscopy(EDX),and photoluminescence(PL).XRD confirms the polycrystalline nature of the LaF_3 film.Nearly stoichiometric g...
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文献信息
篇名
来源期刊 中国光学快报(英文版) 学科 工学
关键词 子系统 X射线衍射仪 扫描电子显微镜 应用 X射线光谱仪 光致发光 电子束蒸发
年,卷(期) 2010,(3) 所属期刊栏目 Materials
研究方向 页码范围 306-308
页数 3页 分类号 TN16 TU855
字数 语种 英文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
子系统
X射线衍射仪
扫描电子显微镜
应用
X射线光谱仪
光致发光
电子束蒸发
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国光学快报(英文版)
月刊
1671-7694
31-1890/O3
大16开
上海市嘉定区清河路390号(上海800-211信箱)
4-644
2003
eng
出版文献量(篇)
5566
总下载数(次)
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