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摘要:
空间变迹法(SVA)作为一种超分辨率图像处理技术,能在抑制旁瓣的同时保持良好的主瓣分辨率.将空间变迹法引入合成孔径声呐(SAS)成像,比传统的加窗处理能获得更好的成像效果.对标准空间变迹法进行了推广.得到非标准奈奎斯特采样率下的通用算法,并应用于SAS成像处理.仿真结果表明,二维通用算法在任意奈奎斯特采样倍数时,均能在不增加主瓣宽度的同时得到良好的旁瓣抑制效果,提升了SAS成像分辨率.
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文献信息
篇名 空间变迹法在合成孔径声呐成像处理中的应用
来源期刊 电声技术 学科 工学
关键词 合成孔径声呐 空间变迹法 非标准奈奎斯特采样率 旁瓣抑制
年,卷(期) 2010,(1) 所属期刊栏目 电声基础
研究方向 页码范围 45-48,59
页数 5页 分类号 TN912
字数 3309字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8684.2010.01.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴卫国 武汉理工大学交通学院 177 1190 19.0 25.0
2 田丰 武汉理工大学交通学院 15 34 3.0 5.0
3 喻敏 武汉理工大学交通学院 13 11 2.0 3.0
传播情况
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2017(1)
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
合成孔径声呐
空间变迹法
非标准奈奎斯特采样率
旁瓣抑制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电声技术
月刊
1002-8684
11-2122/TN
大16开
北京市朝阳区酒仙桥北路乙7号
2-355
1977
chi
出版文献量(篇)
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