红外检漏成像仪在SF6电气设备状态检修中的应用

• 作者: 胡伟涛 隋少臣 韩建波
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: SF6电气设备 红外检漏成像 检漏 处理
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 90-92,96
• 分类号: TM561
• 字数: 3029字
• 语种: 中文

摘要

简述了现有SF6电气设备检漏技术与红外成像检漏技术的基本原理.通过详述一起SF6断路器气体泄漏的处理方法及过程,得出该仪器检测SF6气体泄漏的灵敏度高,并能准确、快速定位泄漏源,具有广泛的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡伟涛		11	95	5.0	9.0
2	隋少臣		7	60	2.0	7.0
3	韩建波		1	49	1.0	1.0