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摘要:
采用电子服务行业多年工作经验总结、查阅资料、厂家调研等方法,对电子产品容易产生虚焊部位进行详细分析,结论是大电流、高电压冲击下的中大功率元器件容易产生虚焊;对虚焊常见故障种类进行说明;提出合理选材、改进波峰焊接工艺、冲氮气减少氧化程度、对中大功率元器件引脚进行特殊处理等措施,减少电子产品焊点的后期失效.
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文献信息
篇名 电子产品"虚焊"原因分析及控制方法
来源期刊 信息技术 学科 工学
关键词 虚焊部位 虚焊种类 虚焊原因 焊接工艺 控制方法
年,卷(期) 2010,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 119-121
页数 分类号 TN405
字数 2902字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-2552.2010.10.038
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李春来 28 86 5.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
虚焊部位
虚焊种类
虚焊原因
焊接工艺
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研究起点
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术
月刊
1009-2552
23-1557/TN
大16开
哈尔滨市南岗区黄河路122号
14-36
1977
chi
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