典型机箱的电磁屏蔽效能测试及电磁泄漏分析

• 作者: 方伟 钟文彬
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 机箱 屏蔽效能 电磁泄漏
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 67-69
• 分类号: TM937
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.09.023

摘要

测试了机柜中常用的典型机箱的电磁屏蔽效能,得出了该种机箱在频率段30MHz～1GHz时水平极化和垂直极化方式下、有散热孔和无散热孔时的屏蔽效能值,综合分析了影响机箱电磁泄漏的主要因素,为机箱的设汁及选用提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方伟		12	45	4.0	6.0
2	钟文彬		2	27	2.0	2.0