基于PI3000平台的软件缺陷管理系统的应用实践

• 作者: 卞卫敏 夏慧 孔震
• 来源期刊: 计算机与现代化
• 学科: 工学
• 关键词: CMMI 软件缺陷 缺陷管理 缺陷流程 缺陷度量
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 软件工程
• 页码范围: 40-43,46
• 分类号: TP311.5
• 字数: 4367字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2475.2010.05.012

摘要

软件缺陷管理是提高软件质量和软件开发效率的重要技术途径之一.通过对现有缺陷管理工具的比较,依据CMMI模型并基于PI3000平台,设计和实现了缺陷管理系统.该系统采用了浏览器的B/S架构,实现了缺陷跟踪的流程,对缺陷状态的变化进行控制,并具有查询、统计分析等功能,集合了多数缺陷管理工具的优点.实际应用表明该系统有效地提高了软件的质量和开发效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏慧	国网电力科学院信息技术研究所开发部	2	5	1.0	2.0
2	孔震	国网电力科学院信息技术研究所开发部	10	46	5.0	6.0
3	卞卫敏	国网电力科学院信息技术研究所开发部	1	1	1.0	1.0