几个ESD标准版本的差异分析

• 作者: 孙成明 孙正 黄学军
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 电磁兼容 静电放电 试验
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 76-78
• 分类号: TN03
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.07.025

摘要

介绍<GB/T17626.2-2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验>与<GB/T17626.2-1998)版及<IEC61000-4-2:2008>版的主要差异和分析,可供EMC试验工程师参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄学军		9	20	2.0	4.0
2	孙正		3	4	1.0	2.0
3	孙成明		3	6	2.0	2.0