椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的改进

• 作者: 王伟 王瑞荣 陈伟民
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 弯晶谱仪 分辨能力 狭缝宽度
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 1303-1308
• 分类号: TH744.1
• 字数: 2798字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20101806.1303

摘要

讨论了椭圆弯晶谱仪的波长分辨能力.在假设谱线的固有宽度可以忽略的情况下,对两种实际影响椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的主要因素,即光源空间尺寸和非理想椭圆分光晶面进行了分析.分别对上述两种情况进行了数学建模和数值模拟仿真.定量地分析了非理想椭圆晶面和光源空间尺寸对椭圆弯晶X射线谱仪波长分辨本领的影响程度,并给出了出射狭缝宽度与椭圆弯晶谱仪波长判读加宽的关系.从理论上论证了光源空间尺寸在限制谱仪的波长分辨能力方面仍然起关键主导作用;结合椭圆分光晶体的结构参数,合理地选择出射狭缝宽度,可使谱仪达到足够好的光谱分辨率和信噪比.用搭建的实验平台进行了实验测试,结果表明,当出射狭缝宽度(2δ)为10 mm时,实测的谱线半高全宽(Δλ)为3.1×10-3 nm;2δ为4 mm时,Δλ为2.3×10-4 nm,实测结果佐证了仿真结果的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟民	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	311	4748	37.0	51.0
2	王瑞荣	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	11	31	4.0	5.0
4	王伟	上海激光等离子体研究所高功率激光物理国家实验室	13	40	5.0	5.0