光电耦合器电离辐射损伤噪声相关性模型

• 作者: 何亮 包军林 杜磊 林丽艳
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 噪声 光电耦合器 模型
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 分类号: TN632
• 字数: 1790字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2010.03.016

摘要

在总结光电耦合器噪声产生机制的基础上,建立光电耦合器电离辐射损伤1/f噪声相关性模型,并通过辐照实验验证了模型的正确性.该模型全面分析了光电耦合器的电离辐射损伤,为噪声参量用于光电耦合器电离辐射损伤表征提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜磊	西安电子科技大学大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
2	何亮	西安电子科技大学大学技术物理学院	36	212	7.0	14.0
3	包军林	西安电子科技大学大学微电子学院	43	306	10.0	16.0
4	林丽艳	西安电子科技大学大学技术物理学院	3	46	3.0	3.0