采用不同检测设备测定陶瓷金属化层厚度的分析研究与探讨

• 作者: 程文琴 陈金华
• 来源期刊: 陶瓷科学与艺术
• 学科: 工学
• 关键词: 检测设备 陶瓷金属化 厚度
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 18-20
• 分类号: TQ17
• 字数: 2997字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7643.2010.10.007

摘要

本文提出了目前真空电子陶瓷行业常用的两种检测设备测定陶瓷金属化层厚度是有差异的,阐明了当测量数据差异比较大时,应当以扫描电子显微镜的检测结果为准.本文以实际检测数据为基础,确定了在某一种特定条件下,采用荧光测厚仪和扫描电子显微镜测定陶瓷金属化层厚度的修正系数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程文琴		4	9	2.0	3.0
2	陈金华		1	0	0.0	0.0