基于AMSAA模型的弹上电子设备可靠性增长试验研究

• 作者: 周帆 孙永威 张立民
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性增长 可靠性增长试验 AMSAA模型
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 算法与分析
• 页码范围: 18-21,74
• 页数: 5页
• 分类号: TJ430.6
• 字数: 3855字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.02.006

摘要

采用工程界普遍使用的AMSAA模型,对某型弹上电子设备进行了可靠性增长试验,达到了预期的可靠性增长目标,验证了AMSAA模型方法的合理性,并简述了一种在AMSAA模型基础上采用牛顿迭代法来预测特定MTBF下的试验时间的方法,该方法合理可行,对开展可靠性增长与可靠性增长试验工作具有重要的实际意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张立民	海军航空工程学院电子信息工程系	163	596	11.0	15.0
2	周帆	海军通信总站六大队技术室	1	10	1.0	1.0