基于ARM Cortex-M3的过采样技术

• 作者: 张自强 晏英俊
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: Cortex-M3 过采样 模数转换器 分辨率
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 115-117
• 分类号: TP274+.2
• 字数: 2158字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2010.09.036

摘要

介绍一种基于ARM Cortex-M3内核实现的过采样技术.实验结果表明,利用过采样技术可在不需片外ADC器件的情况下,达到同样的采样效果.将Cortex-M3内核与过采样技术相结合,不仅能够降低成本,而且提升了系统的运行速率、可靠性与稳定性.