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摘要:
为了利用集成电路测试系统实现对单片机的测试,提出了基于93000测试系统的单片机最小可测系统的设计方案,包括硬件连接和软件程序设计,详细介绍了最小可测系统的实现原理和方法.整个系统设计方案简洁、设计成本低廉、使用方便.
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文献信息
篇名 基于93000的单片机最小可测系统设计
来源期刊 计算机与数字工程 学科 工学
关键词 单片机 测试 最小可测系统
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 108-110
页数 分类号 TP312
字数 2653字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.033
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 韩红星 6 14 2.0 3.0
2 李轩冕 4 12 2.0 3.0
3 胡勇 6 12 2.0 3.0
4 贺志容 5 19 2.0 4.0
传播情况
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引文网络
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参考文献  (0)
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2016(1)
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研究主题发展历程
节点文献
单片机
测试
最小可测系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机与数字工程
月刊
1672-9722
42-1372/TP
大16开
武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
1973
chi
出版文献量(篇)
9945
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28
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47579
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